Abstract
Within the framework of this article the question of reliability evaluation of electronic component base of foreign production, used as a part of electronic equipment of spacecrafts is considered. The reliability of electronic equipment of spacecrafts directly depends on the reliability of the electronic component base used as a component of it. This electronic component base should provide strict requirements for the active shelf life of the spacecrafts. To date, the requirements for gamma-percentile time to failure of electronic components used as a part of electronic equipment of spacecrafts, reaching 150,000 hours under standard value of у = 95%. Confirmation of such requirements is possible only in case of testing large samples for a long time, which entails considerable economic costs. This inevitably leads to the need to use and develop new ideas and methods of the theory of reliability. In this article, to confirm the reliability requirements for the electronic component base, it is proposed to generalize the estimated score and the data obtained from the results of accelerated tests for reliability, on the basis of the Bayesian theorem. In the result of the investigation was determined by the values of the failure rate of electronic components, as well as the possibility of increasing the value of probability of no failure operation у to a value of 99%, while maintaining the requirements of the gamma-percentile time to failure of electronic components base used as a part of electronic equipment of spacecrafts.
Highlights
Введение Современный космических аппаратов (КА) – это сложная электронная система, которая, находясь в космосе в течение 15–20 лет, должна сама себя диагностировать, про‐ верять, принимать решения в рамках поставленных задач и выполнять различные возложенные на нее функции [1]
Разработанный метод обобщения расчетных и экспериментальных дан‐ ных позволяет подтверждать значения γ = 0,99 при заданном значении гамма-процентной наработки до отказа Tγ = 150 000 ч, т. е. повышать стандартные требования, предъявляемые к электронной компонентной базы (ЭКБ) иностранного производства (ИП)
This inevitably leads to the need to use and develop new ideas and methods of the theory of reliability
Summary
Для опре‐ деления соответствия изделий таким высоким требованиям, согласно представлениям, основан‐ ным на базе классической математической ста‐ тистики, необходимы большие объемы выборок и значительная продолжительность испытаний. Однако при больших значениях заданного значе‐ ния гамма-процентной наработки испытания, про‐ водимые в течение по меньшей мере 3000 часов (предписано современной нормативной докумен‐ тацией), не обеспечивают необходимой оператив‐ ности контроля надежности изделий. Объект исследования При выборе иностранного производителя в ка‐ честве главного критерия необходимо принимать достаточность действующего у производителя про‐ цесса квалификации ЭКБ для обеспечения тре‐ бования соответствия ЭКБ условиям применения в составе РЭА. Оценку соответствия принятых у иностранного производителя состава и типовых условий про‐ ведения квалификационных испытаний ЭКБ составу и значениям характеристик механиче‐ ских, климатических, радиационных внешних воздействующих факторов, требованиям на‐ дежности, заданным техническим заданием на изделие. В рамках данной статьи была проведена работа по оценке надежности типономиналов ЭКБ ИП, приведенных в табл. В рамках данной статьи была проведена работа по оценке надежности типономиналов ЭКБ ИП, приведенных в табл. 1
Sign-in/Register to view highlights & summary Sign-in/Register to access full text options 
Free) 
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a call
