Abstract
Bu araştırmada çeşitli simülasyon koşullarında çok aşamalı testlerin performansları RMSE, SEE, BIAS ve MAE değerlendirme kriterleri açısından karşılaştırılmıştır. Çok aşamalı test simülasyonunda örneklem büyüklüğü (1000, 3000), panel deseni (“1-3”, “1-3-3”, “1-2-3”), modül seçimi (MFI), modül uzunluğu (6, 12, 18), yetenek parametresi kestirim yöntemiyle (MLEF, EAP, MAP) 54 koşul belirlenerek 100 replikasyon yapılmıştır. Araştırma sonucunda RMSE ile MAE değerlerinin genellikle benzer sonuçlar verdiği ve ölçme doğruluğunun modül uzunluğu arttıkça azaldığı tespit edilmiştir. Farklı panel deseni koşullarında RMSE, SEE ve MAE’nin “1-3” panel desende en yüksek, “1-3-3” panel deseninde ise en düşük değerleri aldığı tespit edilmiştir. Farklı yetenek parametresi kestirim yöntemleri kullanıldığı durumlarda farklı koşullarda elde edilen RMSE, SEE, BIAS ve MAE değerlerinin bir yetenek parametresi kestirim yöntemi lehine farklılaşabildiği görülmüştür.
Published Version
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a call