Abstract
본 논문은 2차원 연속 웨이블릿을 이용하여 조명에 의한 불균일한 휘도성분을 제거하여 TFT Display 핵심 부품인 편광필름 영상내의 결함을 검사 할 수 있는 방법을 제안한다. 영상 신호는 불균일한 휘도 분포와 노이즈 신호, 그리고 결함 신호로 구성되어 있다. 영상의 2차원 웨이블릿 변환은 스케일이 다른 여러 성분이 중첩된 다해상도 구조를 형성한다. 본 논문에서는 1차원 미분 가우시안 웨이블릿을 적용하여 영상에 중첩되어 있는 다해상도 성분 중 배경 휘도 성분을 효율적으로 추출하여 제거하는 전처리 기법을 제안한다. 이를 이용하여 원 영상에서 배경 성분을 분리할 수 있어 보다 신뢰성 있게 결함을 검출할 수 있다. In this paper, we propose an effective method to extract background components in automated vision inspection system for polarized film used in TFT LCD display panels. The test image signals are typically composed of three components such as ununiform background, random noises and target defect signals. It is important to analyze the background signal for accurate extraction of defect components. Two dimensional continuous wavelets with first derivative gaussian is used. This methods can be applied for reliable extraction of defect signal by elimination of the background signal from the original image. The proposed method outperforms over conventional FFT methods.
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