Electron Probe Current Research Articles

The examination of hot and electron emitting surfaces in the scanning electron microscope

A technique for the examination of hot and emitting specimens in the scanning electron microscope is described. Special precautions are necessary with the secondary emission collector while the heating stage must be designed to have good thermal and electrical insulation from the specimen stage. Results are presented showing micrographs taken at specimen temperatures in excess of 1300°K and with emission currents of up to 20mA compared with the electron probe current of 10 −11 A. The deterioration in resolution to be expected under these conditions of operation is discussed. Une technique pour l'examen de spécimens chauds et émettants, sous le microscope électronique à balayage est décrite. Des précautions particulières sont nécessaires pour le collecteur d'émission secondaire, tandis que la platine du chauffage doit avoir une bonne isolation thermale et électrique de la platine du spécimen. Les résultats présentés montrent des micrographies prises quand la température des spécimens etait plus de 1300°K, avec des courants d'émission de jusqu' à 20mA, en comparaison du courant électronique de sonde de 10 −11 A. La détérioration de la résolution qui est vraisemblable dans ces conditions d'opérer est discutée. Es wird ein Verfahren beschreiben, welche die Untersuchung heisser und emittierender Objekte im Rasterelekronenmikroskop ermöglicht. Die Handhabung des Sekundäremissionssammlers benötigt besondere Vorsicht. Der Heiztisch muss elektrisch und thermisch vom Objekttisch gut isoliert sein. Als Ergebnisse werden Mikrofotografien gezeigt, die bei einer Objekttemperatur von über 1300°K und bei Emissionsströmen bis zu 20mA aufgenommen wurden (der Elektronensondenstrom beträgt vergleichweise 10 −11 A). Die Auflösungsverschlechterung, welche unter diesen Bedingungen zu erwarten ist, wird besprochen.

Effects of a Magnetic Field on Electron Probe Currents

Effects of a Magnetic Field on Electron Probe Currents

A method of approximation for Langmuir probes

The use of a Langmuir probe in the study of an electric plasma is restricted to probes with a flat collecting area. For probes with other shapes a saturation of the ion current is not obtained. Since the electron probe current is made up, in part, of an electron equivalent of the saturated ion current, a knowledge of its value is necessary for probe analysis. A method of approximation is proposed by which this difficulty can be surmounted. In this method log i + log (1 + i'/i) is substituted for log ie. Experimental results show that the method can be used and is applicable to all shapes of probes.