Abstract

Este estudio teórico revisa los roles que tienen los valores de los principales parámetros en el modelo de los conversores analógico a digital (ADC), presentes en las unidades microcontroladoras (MCU) de gama media y avanzada del fabricante Microchip, en el número máximo de muestras por segundo (tasa de muestreo) que se puede adquirir de una señal analógica de referencia. Se determinan los compromisos entre las características de la señal de entrada, la resolución de los datos requerida por la aplicación y las características del dispositivo, a fin de maximizar la tasa de muestreo y evaluar comparativamente el desempeño de tres gamas representativas de MCU PIC® de Microchip a partir de sus especificaciones.

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