Abstract
Within the framework of this article the question of reliability evaluation of resonators with strict performance requirements for resistance to external factors is considered. Due to the increase in requirements for these products in terms of gamma-percentile time to failure and gamma-percentile storageability time, there is a need to develop new ideas and methods of reliability theory. As a methodical basis for generalization of data of their life cycle the approach on the basis of Bayesian theorem is offered. Based on the results of generalization of the statistics of resonator tests for various types of climatic influences and reliability tests, as well as the results of their use in the electronic equipment have been identified their main reliability indicators.
Highlights
Введение Значимость надежности как инженерной науки при производстве радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) обусловлена техническим прогрессом, ус‐ ложнением и повышением наукоемкости изделий и технических систем, ужесточением условий их эксплуатации в окружающей среде
V. Assessment of the reliability of vacuum precision piezoelectric resonators according to the results of the accumulation and compilation
Based on the results of generalization of the statistics of resonator tests for various types of climatic influences and reliability tests, as well as the results of their use in the electronic equipment have been identified their main reliability indicators
Summary
Накопленная статистика по результатам ис‐ пытаний составила:. Результаты исследования Обобщенные по формулам (1) и (2) данные о накопленной статистике длительных и кратко‐ временных испытаний резонаторов на безотказ‐ ность, испытаний на сохраняемость, испытаний к воздействию климатических факторов и резуль‐ татов их эксплуатации в составе РЭА приведены в таблице. Выводы Таким образом, накопленная на протяжении 17 лет статистика позволяет при обобщении ин‐ формации обо всех испытанных, испытуемых и экс‐ плуатируемых в настоящее время резонаторах [6] оценить ИО при верхней доверительной границе с вероятностью 0,6 и повысить значения показате‐ лей надежности, которые на данный момент содер‐ жатся в технических условиях. Результаты исследования могут быть исполь‐ зованы при оценке показателей надежности ин‐ тегральных микросхем, в том числе микрокон‐ троллеров, микропроцессоров, программируемых логических интегральных схем, а также диодов, транзисторов и другой ЭКБ
Sign-in/Register to view highlights & summary Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callDisclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
