Analysis of transmission electron microscopy contrast at extrinsic grain boundary dislocations

Abstract

Transmission electron microscopy contrast effects from extrinsic grain boundary dislocations (EGBDs) are investigated by computations of intensity profiles. The contrast changes dependent on diffraction conditions and on the geometry of the EGBD line are differentiated. On this basis the rules for the interpretation of the experimental cases are given. Die von fremden Korngrenzenversetzungen (KGV) herruhrenden, im Durchstrahlungs-elektronenmikroskop entstehenden Kontrasteffekte werden mit Hilfe von Computer-berechnungen der theoretischen Beugungsbilderprofile untersucht. Es werden einerseits die von Beugungsbedingungen und andererseits die von der Geometrie der KGV-Linien abhangigen Kontrastveranderungen unterschieden. Auf dieser Grundlage werden Richt-linien fur die Deutung der experimentell erhaltenen Bilder der KGV gegeben.