A new calibration method for the X-ray powder diffraction study of shape memory alloys

Abstract

The R-phase of a polycrystalline 50Ti48Ni2Fe shape memory alloy is here investigated by means of X-ray analysis. With the aim to determine, by means of X-ray powder diffraction, the R-phase lattice parameters with high accuracy, an original calibration method specific for shape memory alloys is developed. The effects of intrinsic aberrations that in X-ray powder counting diffractometry modify the peak angular positions, are taken into account. Exploiting the crystalline structure of the B2-phase of the specimen under investigation, a full indexing of the X-ray spectrum of the R-phase, not achievable by raw experimental data, is obtained. The possibility to extend the method in a most general way to crystalline materials that present a first-order crystalline phase transformation it is also pointed out. Nous avons étudié la phase rhomboédrique d'un alliage polycristallin 50Ti48Ni2Fe à mémoire de forme par diffraction aux rayons X. Dans le but de déterminer les paramètres réticulaires de la phase R avec précision élevée, nous avons développée une méthodologie originale de calibrage pour la diffraction de poudres aux rayons X. Les effects des aberrations intrinsèques dans la diffraction aux rayons X à comptage, qui modifient les positions angulaires des pics, ont été consideré. En exploitant la phase B2 de l'échantillon sous investigation, nous avons obtenue la complète indexation du spectre aux rayons X de la phase R, qui n'était pas réalisable avec les donnés grossiers. La méthodologie ici developpée peux ětre appliquée en faęon générate aux matériaux crystallins qui présentent une transformation cristallographique de phase du premier ordre.