213. 高純度ゲルマニウム半導体検出器を用いた X 線スペクトル測定 : その 1 出力スペクトルデータの補正(放射線管理 被曝線量・測定器)

Abstract

HP-Ge半導体検出器の光子に対するレスポンスは、結晶の形状(特に結晶厚)線束入射角度などの測定ジオメトリに依存する。HP-Geから出力されたX線スペクトルの補正計算には、実測と同一条件で計算されたレスポンスデータを用いる必要がある。