Abstract
214. 高純度ゲルマニウム半導体検出器を用いた X 線スペクトル測定 : その 2 プレーナ型およびクローズドエンド同軸型検出器の比較(放射線管理 被曝線量・測定器)
Full Text
Sign-in/Register to access full text options
Published version (
Free)
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have