НОВЫЙ СПОСОБ ЮСТИРОВКИ НЕОДИНАРНОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИНТЕРФЕРОМЕТРА И УСТРОЙСТВА ДЛЯ ГЕНЕРАЦИИ ДИСЛОКАЦИЙ В ЕГО БЛОКЕ

Abstract

Разработано, изготовлено и протестировано универсальное устройство для рентгеноинтерферометрического исследования структурных несовершенств в монокрис¬таллах. Данное устройство может служить как для нанесения царапин на поверхности кристаллического блока интерферометра, так и для его изгибания. Предложена технология для генерации дислокации в блоке интерферометра. Экспериментально доказано, что муаровые топографические картины, полученные от двукратного рентгеновского интерферометра, зависят от ориентации отражающих плоскостей относительно дефекта (дислокации). Показано, что кратные интер¬ферометры позволяют одновременно наблюдать изображения различных структурных несовершенств. Полученные экспериментальные результаты дают возможность судить о пространственной ориентации дефектов и распределении поля напряжений, вызванных этими дефектами, т.е. поля напряжений можно визуализировать муаро¬выми картинами рентгеновских лучей. Результаты, полученные в работе, могут посужить основой для решения обратной задачи, а именно - восстановление полей механических напряжений в кристаллических блоках интерферометра путем расшифровки муаровых картин. Установлено, что топографические картины, полученные от одного и того же кратного интерферометра с помощью семейств симметрично-эквивалентных отражающих плоскостей, будут одинаковыми только в том случае, если кристаллы интерферометра идеальны, что подтверждается полученными топограммами от отдельных кристаллов (блоков) интерферометра, где в блоке-расщепителе выявилась дислокация. Экспериментально доказано, что предложенное нами универсальное устройство полностью удовлетворяет условиям эксперимента: получение однородной по глубине царапины и тонкого четырехопорного изгиба кристаллических блоков интерферометра. Показано, что распределение деформаций, вызванных линией дислокации, зависит от ориентации семейств отражающих плоскостей относительно линии дислокации.