고온고습 시험을 통한 태양전지의 장기 신뢰성에 관한 연구

Abstract

본 연구는 고온고습 시험을 통하여 Cell 레벨에서의 표면관찰 및 효율저하를 분석하였다. 고온고습 시험조건은 KS C IEC-61215에서 제시한 PV 모듈하의 조건을 이용하여 온도 <TEX>$85^{\circ}C$</TEX>, 습도 85%, 1000hr 동안 수행하였다. EL(Electroluminescence)촬영을 통하여 Cell 표면의 이상 유 무를 분석한 결과, 시간이 경과함에 따라, 부분적으로 표면이 손상되어 변색되는 것을 확인하였다. 고온고습 시험 전 단결정 Cell 및 다결정 Cell의 효율은 각각 17.7%, 15.5%였으며, 1000hr 수행 후 15.6%, 14.0%로 각각 11.9%와 9.3%의 감소율을 보였다. 또한, 경년 시 나타나는 전기적 특성을 분석하기 위하여 FF(Fill Factor)값을 분석한 결과, 고온고습 시험 후 단결정 Cell은 78.7%에서 75.0%로 4.7%, 다결정 Cell은 78.1%에서 76.7%로 1.8%의 감소율을 보였다. 태양전지 실리콘의 원자배열 및 순도에 따라 효율 변화에 영향을 받아 단결정 Cell이 다결정 Cell보다 효율저하가 크게 나타났다고 판단된다. 또한, FF감소율보다 효율 감소율이 크게 저하된 것을 확인할 수 있었으며, 이는 Cell의 외부환경적 요인에 의한 표면 손상이 p-n접합층 접촉저항과 경년 시 나타나는 FF 감소율보다 크게 영향을 준 것으로 판단된다. In this study, The report analysed the characteristics of power drop and damage of surface in solar cell through high temperature and humidity test. The solar cells were tested during the 1000hr in <TEX>$85^{\circ}C$</TEX> temperature and 85% humidity conditions, that excerpted standard of PV Module(KS C IEC-61215). An analysis of the cell surface through EL(Electroluminescence), the cell has partly change of surface in yearly. Single-crystalline Solar cell efficiency is decreased from 17.7% to 15.6% and decreasing rate is 11.9%. On the other hand, Poly-crystalline Solar cell efficiency is decreased from 15.5% to 14.0% and decreasing rate is 9.3%. A comparison of the fill factor for analysis of electro characteristic in yearly, Single-crystalline Solar cell efficiency is decreased from 78.7% to 78.1% and decreasing rate is 4.7%. On the other hand, Poly-crystalline Solar cell efficiency is decreased from 78.1% to 76.7% and decreasing rate is 1.8%. Single-crystalline has more bigger power drop than poly-crystalline by the silicon purity and silicon atom arrangement. Also, FF decreasing rate has more bigger drop than efficiency decreasing rate for the reason that the damage of surface by exterior environmental factor is the more influence in cell than other reason that is decreasing FF by damage of p-n junction.