Abstract
Предложен метод определения размеров структурных элементов на поверхности конденсированных сред путем моделирования их изображений и применения вейвлет-преобразований. Параметр масштаба вейвлет-спектров модельных изображений позволяет оценивать размеры частиц в реальных мономорфных дисперсных системах. Показано на примере гомогенных глинистых порошков, что в микрометровой области погрешность определения эквивалентных диаметров частиц не превышает ±10%.
 
 Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ и правительства Оренбургской области в рамках научного проекта №17-42-560069 р_а «Новые оптико-математические методы анализа структурных вариаций дисперсных и наноструктурированных систем».
Highlights
The main tasks when it comes to the image processing of condensed matter surfaces are dispersion and morphological analyses
Determining the size and shape of the structural elements that form condensed matter is of paramount importance
The choice of method is due to the possibility of transition to a frequency-spatial representation of the object without preliminary image processing
Summary
Вейвлет-анализ поверхностей конденсированных сред представляет собой обработку изображений с использованием современного математического аппарата и компьютерных технологий. Модельные изображения получали компиляцией тетраэдров заданных размеров при помощи компьютерной программы Gwyddion. 1 показаны изображения сгенерированных поверхностей с размерами частиц 240 В данном случае они представляют собой зависимости «яркости» точек цифрового изображения от пространственной координаты, полученные с помощью программы ImageJ. Вейвлет-анализ полученных профилей проводили, используя программу Spectra Analyzer, как и авторы [2] на основе. Вейвлет-преобразование произвольной функции z(x) определяется как интеграл вида:. 1. Изображения смоделированных поверхностей с размерами частиц (мкм): 240 (а) и 600 (b). Сравнительный анализ различных вейвлетбазисов показал, что наиболее точно и полно выявить особенности профиля физических поверхностей позволяет Morlet-вейвлет, описываемый выражением [14]: y(x) = econst◊x ◊ e- x2 /2. Morlet-вейвлет обеспечивает наилучшее соотношение между разрешением по координате и частоте
Sign-in/Register to view highlights & summary 
Published Version (
Free)
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a call