커버리지 변화 정보를 활용한 코드 누락 결함에 대한 뮤테이션 기반 결함 위치 식별 기법의 성능 향상

Abstract

많은 소프트웨어 결함이 코드 누락 결함(omission fault)의 형태를 가지는 데 반하여, 기존의 뮤테이션 기반 결함 위치 식별(mutation-based fault localization) 기법은 코드 누락 결함에 대해 낮은 정확도를 보여 효용성이 낮은 문제가 있다. 본 논문에서는 뮤테이션 기반 결함 위치 식별 기법인 MUSEUM과 Metallaxis에 뮤테이션에 따른 커버리지 변화와 테스트 결과 또는 출력을 연계하는 요소를 추가함으로써 코드 누락 결함을 대상으로 위치 식별 성능을 향상하는 MUSEUM+과 Metallaxis+ 기법을 제안한다. 10개의 코드 누락 결함과 6개의 일반 결함을 포함하는 총 16개 Defects4J 결함사례를 대상으로 실험한 결과, 제안한 MUSEUM+과 Metallaxis+기법은 총 10개의 코드 누락 결함 중 6개에 대해 효과적으로 정확도를 향상시켰으며, 16개 전반에 있어 정확도 향상을 확인할 수 있었다.