Stable x-phase sialon can be produced through simultaneous carbothermal reduction and nitridation of kaolinite or kaolinite plus <5 wt (11·7 mol) % α-alumina at 1500°C. The three different formulae suggested in the literature for x-phase sialon and their equivalent percent of aluminium (eq% Al) are reviewed. Using the crystalline phases from X-ray diffraction (XRD) patterns, it is argued that the monophasic domain of x-phase existence is a narrow region which extends from 42·9 to 49·6 eq% Al. This region extends upwards towards the SiO 2 -Al 2 O 3 line in the Si 3 N 4 -AlN-SiO 2 -Al 2 O 3 phase equilibrium diagram. Consequently, Si 12 Al 18 O 39 N 8 is favoured to be the closest formula. The interplanar distances observed from the XRD pattern were used to determine the lattice parameters of the phase. X-phase is present in its low form, with a triclinic crystal structure of a = 9·68 A ̊ , b = 8·55 A ̊ , c = 11·21 A ̊ ; α = 91·4°, β = 124·4° and γ = 99·2° from the XRD pattern. However, in electron diffraction (ED), patterns are indexed as an orthorhombic structure of a = 9·66 A ̊ , b = 2·84 A ̊ and c = 11·17 A ̊ . Stabiles x-phasiges Sialon kann durch gleichzeitige karbothermische Reduktion und Nitrierung von Kaolinit oder von Kaolinit mit weniger als 5 Gew.% (11·7 Mol%) α-Aluminiumoxid-Zusatz bei 1500°C hergestellt werden. Die drei verschiedenen Formeln für x-phasiges Sialon und die entsprechenden Aluminium-Gehalte in Äquivalent-Prozent (Äq.% Al), welche im Schrifttum vorgeschlagen werden, wurden überprüft. Aus der Auswertung der Röntgenbeugungs-diagramme der kristallinen Phasen wird geschlossen, daß das Einphasengebiet der x-Phase ein enger Bereich ist, der sich von 42·9 bis zu 49·6 Äq.% Al erstreckt. Dieser Bereich dehnt sich bis zur SiO 2 -Al 2 O 3 -Linie im Phasen-Gleichgewichtsdiagramm des Systems Si 3 N 4 -AlN-SiO 2 -Al 2 O 3 aus. Demnach scheint, Si 12 Al 18 O 39 N 8 die am nächsten liegende Formel zu sein. Zur Bestimmung der Gitterparameter wurden die Netzebenenabstände, die aus den Röntgenbeugungs-diagrammen erhalten wurden, ausgewertet. In ihrer einfachen Form besitzt die x-Phase eine trikline Kristallstruktur mit a = 9·68 A ̊ , b = 8·55 A ̊ und c = 11·21 A ̊ ; aus den Röntgenbeugungsdiagrammen folgt des weiteren: α = 91·4°, β = 124·4° und γ = 99·2°. Aus Elekronenbeugungsexperimenten jedoch konnten Begungsdiagramme mit orthorhombischer Struktur indiziert werden: a = 9·66 A ̊ , b = 2·84 A ̊ und c = 11·17 A ̊ . Une phase X́ stable de sialon peut être produite par réduction carbothermique et nitruration simultanées de kaolinite ou de kaolinite avec moins de 5% en poids (11·7% en mol) d'alumine α à 1500°C. Les trois différentes formules suggérées par la littérature pour la phase X́ de sialon et leur équivalent en pourcent d'aluminium (eq% Al) sont passés en revue. En utilisant les clichés de diffractions de rayon X des phases cristallines, l'existence d'un domaine monophasique de la phase X́ sous forme d'une région étroite qui s'étend de 42·9 à 49·6 eq% Al est montré. Cette région s'étend vers le haut à travers la ligne SiO 2 -Al 2 O 3 dans le diagramme de phase Si 3 N 4 -AlN-SiO 2 -Al 2 O 3 . En conséquence la formule retenue comme étant la plus proche est Si 12 Al 18 O 39 N 8 . Les distances interplans observées à partir des clichés de diffraction sont utilisées pour déterminer les paramètres de réseau de la phase. La phase X́ est présente sous sa forme basse avec une structure cristalline triclinique a = 9·68 A ̊ , b = 8·55 A ̊ , c = 11·21 A ̊ ; α = 91·4°, β = 124·4° et γ = 99·2°. Cependant par diffraction électronique (ED) une structure orthorombique a = 9·66 A ̊ , b = 2·84 A ̊ , c = 11·17 A ̊ a été caractérisée à partir des clichés.