Abstract
L'appareillage conventionnel de diffraction peut etre utilise pour observer les oscillations des intensites diffractees lors de la croissance de Pt sur Pd(100). Malgre la faible longueur de coherence, les profils sont constitues de deux composants bien separes: ordre a longue distance et l'ordre a courte distance
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Schedule a callMore From: Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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