Abstract

Transmission-electron and fieldion microscopy have been used to study the dislocation. structure of coincidence-related high-angle grain boundaries. The results obtained have been compared with existing models in an attempt to evaluate the relative merits of the various theoretical approaches. Résumé La microscopie électronique par transmission et la microscopie par émission ionique ont été utilisées pour étudier la structure des dislocations dans les joints de grains en coihcidence à forte désorientation. Les résultats obtenus ont été comparés aux modèles existants, afin dapos;évaluer les mérites relatifs des diverses approches thériques.

Full Text
Published version (Free)

Talk to us

Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have

Schedule a call