Abstract
The influence of hard ultraviolet radiation on the crystalline structure, surface morphology and optical characteristics of CdS and CdTe semiconductor layers obtained by direct current magnetron sputtering are investigated. It was established that the optical characteristics of the studied films CdS and CdTe are insensitive to hard ultraviolet irradiation. The crystalline structure of the CdS and CdTe layers is changed after irradiation. The period of the lattice for cadmium sulfide films increases from c = 6.77(01) Å to c = 6.78(88) Å, which may be due to the formation of point defects and defective complexes. Decrease the integral FWHM of the peaks on the X-ray diffraction patterns of the layers of CdS and CdTe was observed, due to the increase of the coherent scattering regions as a result in the process of near-surface layers partial recrystallization of the investigated films.
Highlights
Досліджено вплив жорсткого ультрафіолетового випромінювання на кристалічну структуру, морфологію поверхні та оптичні характеристики напівпровідникових шарів CdS та CdTe, отриманих магнетронним розпиленням на постійному струмі
Тому актуальним є дослідження впливу жорсткого ультрафіолетового випромінювання на структуру та оптичні властивості плівок CdS та CdTe, отриманих магнетронним розпиленням на постійному струмі для сонячних елементів космічного використання
- професор, проректор з науковопедагогічної діяльності; Мигущенко Р.П
Summary
Досліджено вплив жорсткого ультрафіолетового випромінювання на кристалічну структуру, морфологію поверхні та оптичні характеристики напівпровідникових шарів CdS та CdTe, отриманих магнетронним розпиленням на постійному струмі. Кристалічна структура шарів плівок CdS і CdTe після опромінення змінюються. Тому актуальним є дослідження впливу жорсткого ультрафіолетового випромінювання на структуру та оптичні властивості плівок CdS та CdTe, отриманих магнетронним розпиленням на постійному струмі для сонячних елементів космічного використання. На рисунку 1 представлені дифрактограми плівок CdS у вихідному стані та після опромінення жорстким ультрафіолетом.
Sign-in/Register to view highlights & summary Sign-in/Register to access full text options 
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callDisclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
