Some Optical Constants of Thin Crystalline Lead Films in the Visible Region

Abstract

Thin lead films (Pb) of thickness ranging from 21.6 to 245 nm are deposited onto crystalline mica substrates under a pressure of 1.33 × 10−3 Pa. Using ellipsometery the real (e1) and imaginary (e2) parts of dielectric constant and energy loss function, −Im (e)−1and −Im(e + 1)−1 are calculat-ed. The low energy peaks are interpreted in terms of parallel band transition, while the high-energy peaks are interpreted by surface plasmons oscillations. Crystal size of films is obtained by X-ray diffraction. It is found that the crystal size increases by increasing film thickness. Dunne Bleischichten (Pb) mit Dicken zwischen 21,6 und 245 nm werden auf kristalline Glimmer-substrate unter einem Druck von 1,33 × 10−3 Pa abgeschieden. Mittels Ellipsometrie werden Real (e1)- und Imaginar (e2)-Teil der Dielektrizitatskonstunte und Verlustfunktion −Im(e)−1 und −Im(e + 1)−1 berechnet. Die Niederenergiemaxima werden mit Parallelbandubergangen inter-pretiert, wahrend die Hochenergiemaxima mit Oberflachenplasmonenschwingungen interpretiert werden. Die Kristallgrose der Schichten wird mittels Rontgenbeugung bestimmt. Es wird gefun-den, das die Kristallgrose sich mit wachsender Schichtdicke vergrosert.