SMT 검사기의 경로계획을 위한 클러스터링 알고리즘

Abstract

인쇄회로기판을 조립하는 SMT (surface mount technology) 라인의 AOI (automatic optical inspection) 형 검사기를 대상으로, 검사시간 단축을 위한 경로계획 방법을 제안한다. 기판에 존재하는 검사 윈도우들은 카메라의 FOV (field-of-view) 크기를 고려하여 클러스터링 되어야 하며, 전체 검사시간의 단축을 위하여 클러스터의 수를 최소화하는 것이 바람직하다. 주어진 기판에 대한 클러스터의 수를 최소화하기 위한 유전자 알고리즘을 새로이 제안하며, 이를 사용한 효과적 경로계획 방법을 제시한다. 상용 검사기를 대강으로 시뮬레이션을 수행하며, 비교 평가를 통하여 제안된 방법의 유용성을 검증한다. We Propose a Path planning method to reduce the Inspection time of AOI (automatic optical inspection) machines in SMT (surface mount technology) in-line system. Inspection windows of board should be clustered to consider the FOV (field-of-view) of camera. The number of clusters is desirable to be minimized in order to reduce the overall inspection time. We newly propose a genetic algorithm to minimize the number of clusters for a given board. Comparative simulation results are presented to verify the usefulness of proposed algorithm.