Abstract

Synopsis The preparation of clay samples to allow the detailed investigation of microstructure inevitably involves some degree of disturbance, introduced by the standard preparation techniques for the electron microscope, polarizing microscope and X-ray diffractometer. The present investigation assesses the influence of such processes as impregnation, grinding, etching, etc. and the results indicate that certain procedures require modification. A simple surface peeling technique is proposed as suitable for minimizing surface disturbance in scanning electron microscope studies. With the polarizing microscope the standard method of sample preparation does not introduce significant errors. In the case of X-ray diffraction studies, surface disturbance caused by grinding does not introduce significant errors in Carbowax impregnated samples, but invalidates the results for air dried samples. La préparation des échantillons d'argiles pour l'etude détaillée des microstructures met en jeu inévitablement un certain degré de perturbation introduite par les techniques standards de préparation des échantillons pour la microscopic électronique, la microscopie en lumière polarisée, et l'étude de la diffraction des rayons X. La présente étude évalue l'influence de procédés comme le broyage, l'imprégnation, l'attaque chimique etc., et les résultats indiquent que certaines méthodes devraient être modifiées. On propose une simple technique de décapage de surface comme étant appropriée pour minimiser la perturbation de surface lors des études au microscope électronique à balayage. Pour l'emploi du microscope polarisant, la méthode standard de préparation des échantillons n'introduit pas d'erreur significative. Dans le cas des études de diffraction des rayons X, la perturbation de surface crée par le broyage n'introduit pas d'erreurs signifrcatives dans le cas des échantillons imprégnés de Carbowax, mais rend non valables les résultats obtenus avec des échantillons séchés à l'air.

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