Abstract
RESUMO: Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1keV), o novo microscópio eletrônico de varredura dispensa a etapa de metalização e permite a observação direta da estrutura lamelar de polímeros semicristalinos, sem a necessidade de preparação de amostras. São apresentados exemplos da morfologia lamelar do PVDF em função das condições de processamento e da temperatura de cristalização, em filmes contendo as fases a, b e g. Um outro exemplo revela o crescimento inicial da camada transcristalina que se formou ao longo de uma fibra de polietileno de ultra-alto peso molecular embutida em matriz de polietileno de alta densidade.
Highlights
Resumo: Trabalhando com elétrons de baixa energia, o novo microscópio eletrônico de
São apresentados exemplos da morfologia lamelar do PVDF em função das condições de processamento e da temperatura de cristalização, em filmes contendo as fases α, β e γ
Um outro exemplo revela o crescimento inicial da camada transcristalina que se formou ao longo de uma fibra de polietileno de ultra-alto peso molecular embutida em matriz de polietileno de alta densidade
Summary
Teoricamente, os benefícios oferecidos pela operação do microscópio eletrônico de varredura a baixa voltagem tem sido conhecidos por muito tempo. Para um potencial de aceleração de 1keV, por exemplo, o volume de interação atinge dimensões comparáveis ao tamanho do feixe incidente na superfície da amostra (que pode estar na faixa de 10nm ou menor). O novo microscópio emprega um canhão de emissão de campo conhecido como FEG (Field Emission Gun), cujo brilho já ultrapassa as outras fontes por um fator de 100 em condições normais de operação (20 keV), e ainda diminui menos com o potencial de aceleração. Restringindo o limite de resolução proporcionalmente à relação ∆E/E, a aberração cromática não compromete o desempenho das lentes eletromagnéticas durante a operação convencional dos microscópios de varredura, mas começa limitar o poder de resolução na operação à baixa voltagem (pequenos valores de E). Neste trabalho foi utilizado um microscópio Hitachi modelo S-4500 e voltagens de aceleração entre 1 e 2 kV
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