Abstract

메모리 관련 오류 검출은 소프트웨어 개발 시 신뢰성 향상을 위해서 수행하여야 할 가장 중요한 작업중의 하나이다. 그러나 메모리 오류 검출을 위한 긴 디버깅 시간은 이동 통신 기기 개발 과정에 있어 큰 문제가 되었다. 대부분의 메모리 오류 검출 도구는 정적 분석 기법을 사용하나, 큰 용량의 동작 메모리로 인하여 이동 통신 기기 개발에는 사용되지 못하는 경우가 많다. 때문에 이동통신 기기 업체는 고품질의 기기를 빠른 시간 내에 개발하는 것이 매우 어려웠다. 이 논문에서 소개될 이동통신 기기 개발을 위한 Pin 기반의 메모리 오류 검출 도구인 PinMemcheck은 Pin의 이진 가공 기법과 간단한 데이터 구조를 적용하여 기준 설정 대비 약 1.5배의 실행 시간 부하 내에서 필수 오류들을 모두 검출해 내었다. Memory error debugging is one of the most critical processes in improving software quality. However, due to the extensive time consumed to debug, the enhancement often leads to a huge bottle neck in the development process of mobile devices. Most of the existing memory error detection tools are based on static error detection; however, the tools cannot be used in mobile devices due to their use of large working memory. Therefore, it is challenging for mobile device vendors to deliver high quality mobile devices to the market in time. In this paper, we introduce "PinMemcheck", a pin-based memory error detection tool, which detects all potential memory errors within <TEX>$1.5{\times}$</TEX> execution time overhead compared with that of a baseline configuration by applying the Pin's binary instrumentation process and a simple data structure.

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