Abstract

Microscopy with an integrating sphere (also known as the photometric Ulbricht sphere) is rarely used in histological and cytological practice due to the difficulties in manufacturing the integrating chamber with the technological holes for the sample placing, as well as the high cost of the modern commercially available Ulbricht spheres. The additional difficulties appear at the ultrastructural / submicroscopic level, especially when using near-field optical microscopy (SNOM) techniques determining the size of the integrating sphere. The required correspondence between the radius of the integrating sphere and the size of the specific sample / sample stage results in a physical and technical contradiction, which in principle can be overcome only if a number of conditions are met. The first and obvious one is the equal dimensions of the transmission window of the sample stage and the sample itself. The final condition is obtaining a wide-field image at the stationary position of the stage, since its displacement inside the integrating sphere will lead to the changes in the light-shadow (schlieren) structure of the registrogram. The same is true for the movement of the coordinate stage or a slide / sample itself, but for the sample in vivo / in situ perturbations of the optical field of the isotropic-integrating sphere can be used as an analytical signal. In a general case, when all the above planes and sections are located at the stationary position at the center of the Ulbricht sphere, the only possible solution is to use CCD / CMOS sensors with a simple printed circuit board, which act as an analytical chip with a function of a lensless projection microscope instead of the reduced conventional optical microscope.

Highlights

  • ЛАЗЕРНАЯ ПОЛИПРОЕКЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ В ИНТЕГРИРУЮЩЕЙ СФЕРЕ / ФОТОМЕТРИЧЕСКОМ ШАРЕ УЛЬБРИХТА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ БЕЗЛИНЗОВЫХ МИКРОСКОПОВ С ASP-СЕНСОРАМИ НА БАЗЕ ПРИБОРОВ С ЗАРЯДОВОЙ СВЯЗЬЮ ИЛИ КОМПЛЕМЕНТАРНЫХ МЕТАЛЛ-ОКСИДПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТРИЦ

  • The additional difficulties appear at the ultrastructural / submicroscopic level, especially when using near-field optical microscopy (SNOM) techniques determining the size of the integrating sphere

  • In a general case, when all the above planes and sections are located at the stationary position at the center of the Ulbricht sphere, the only possible solution is to use CCD / CMOS sensors with a simple printed circuit board, which act as an analytical chip with a function of a lensless projection microscope instead of the reduced conventional optical microscope

Read more

Summary

Методологія наукових досліджень Scientific research methodology

Шановні колеги! У рубриці „Методологія наукових досліджень” редакція продовжує публікацію матеріалів, що пов’язані з найважливішими аспектами наукової і навчальної діяльності: організаційно-методичним забезпеченням наукових видань, загальними принципами статистичного, біометричного і математичного супроводження досліджень, а також оригінальними методичними підходами вітчизняних і зарубіжних морфологів. Конструктивно установка для проекционной микроскопии с интегрирующей сферой MPLMUIS (Multiple Projection Laser Microscopy in the Ulbricht Integrating Sphere) имеет на данный момент три версии, каждая из которых стереотипно состоит из: а) камеры – интегрирующей сферы, в которую вводится образец Получение изображения которого является целью экспериментов на данной установке, исследуется в герметизируемой и потенциально вакуумируемой аналитической камере, размещенной непосредственно под колонной в случае сборки с удлиняющим тубусом либо в интегрирующей сфере Ульбрихта от спектрофотометра SPECORD (ГДР) без вакуумирования, герметизации и напуска специально комбинируемых атмосфер. В версии 3-Б с увеличенными размерами интегрирующей сферы при сохранении точности позиционирования также предусматривался гониометрический стол, обладающий перфорацией для крепления чипа – безлинзового микроскопа, элементарных стационарных микроманипуляторов-перфузоров Изображения могут быть найдены в соответствующих датасетах в репозитории IEEE и, при необходимости, запрошены у авторов после истечения эмбарго

Источники финансирования
Литературные источники References
Full Text
Paper version not known

Talk to us

Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have

Schedule a call

Disclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.