Abstract
コンタクト型原子間力顕微鏡(AFM)を用いてポリオレフィンフィルムの表面粗さを測定した.試料は直鎖低密度ポリエチレンと低密度ポリエチレンのブレンド,高密度ポリエチレンと低密度ポリエチレンのブレンド,キャストポリプロピレンである.表面粗さはAFM像を構成する断面プロフィルから,10点平均粗さRzとして求めた.高分子フィルムの透明性を表す尺度の一つのヘイズ(曇り度)と比較したところ,表面粗さは外部ヘイズと相関があり,表面粗さが増すと外部ヘイズが増加すること,又この相関はポリオレフィンの樹脂の種類によらずに成り立つことが分かった.
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callDisclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
