Abstract
Magnetic domain contrast from Fe–3% Si was observed in the backscattered electron image of scanning electron microscope. The alteration in both the backscattering coefficient and the X-ray emission due to the opposite directions of saturation magnetization were calculated by the Monte Carlo technique. Specific arrangement to attain better quality and high magnification in the observation is described. An observation of zig-zag shape structure in the magnetic domains, which seems to provide a useful approach to the study of magnetic domain, is presented. Der Kontrast der magnetischen Domänen in Fe–3% Si-Einkristallen wurde im Bild der rückgestreuten Elektronen im Raster-Elektronenmikroskop beobachtet. Die Änderungen des Rückstreuungskoeffizienten und der Röntgenstrahlemission für entgegengesetzte Richtungen der Sättigungsmagnetisierung werden mit der Monte-Carlo-Methode berechnet. Eine spezielle Anordnung, um die Qualität des Bildes zu verbessern und mit höherer Vergrößerung zu beobachten, wird beschrieben. Eine Beobachtung der Zick-Zack-Struktur magnetischer Domänen, die eine praktische Technik für die Untersuchung magnetischer Domänen zu sein scheint, wird mitgeteilt.
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