Abstract

采用改性共沉淀法合成了La 9.33 Si 6 O 26 -10wt% Zr 0.86 Y 0.14 O 1.92 两相共存的氧离子导电复合材料, 利用X射线衍射、扫描电子显微镜、交流阻抗技术分别表征了材料的相组成、微观组织和离子导电性. 结果表明, 复合材料粉体平均晶粒尺寸为35 nm, 烧结块体的平均颗粒尺寸为500 nm; 在300~700℃温度范围内, 复合材料的导电率均高于La 9.33 Si 6 O 26 或Zr 0.86 Y 0.14 O 1.92 单相材料, 且700℃时比La 9.33 Si 6 O 26 高出1个数量级. 结合交流阻抗谱及电模量谱对复合材料的导电机理进行了分析讨论.

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