Abstract

En este trabajo diseñamos y construimos un equipo para hacer la medida de transporte eléctrico utilizando la técnica de Van Der Pauw para estudios de nanosistemas, como son las películas delgadas de cobre y grafeno, una forma de caracterizar estos materiales muy de moda es medir sus propiedades eléctricas, que son una huella digital de cada material llamada conductividad eléctrica. Aquí inventamos un sistema conmutador que permite alternar las medidas de la corriente y voltaje que pasa por las muestras, esta técnica conocida como Van der Paw requiere una disposición de contactos aleatorios para la toma de datos permitiendo obtener la medida de la conductividad del material en estudio para este trabajo películas delgadas de cobre, grafeno depositado sobre SiO2 a diferentes temperaturas. Se ha encontrado que el comportamiento de la resistividad de la película de Cu medida concuerda con los valores teóricos y experimentales de la resistividad con el aumento de la temperatura.

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