Direction of the cross-section ellipse and secondary slip in extended copper single crystal wires

Abstract

A simple geometrical relation is found for predicting the orientation of the elliptic cross section of extended copper single crystal circular bars. Its sensitivity to the relative amount of secondary slip is used to obtain an estimate of the latter quantity. A particular orientation of the X-ray beam is found to reduce asterism of Laue photographs. On a trouve une relation geometrique qui permet do calculer d'une facon simple l'orientation de la coupe transversale elliptique de bars circulaires de cuivre monocristallin deformes par traction. La sensibilite de cette orientation en regard de la quantite relative de glissement secondaire a ete utilisee pour obtenir une estimation de cette quantite. II se trouve qu'une orientation speciale du faisceau des rayon X reduit l'asterisme des photographies Laue.