Compton profile measurements by use of solid state detector

Abstract

It is practically impossible to measure the Compton profile of any heavy material, because its strong absorption very much reduces the intensity. This difficulty has been overcome by use of a non-dispersive solid state detector (SSD) together with γ-rays or high energy X-rays, because the effective intensity in this case becomes 102 to 104 times stronger than with the conventional dispersive crystal analyser. As for the energy resolution, the ratio of the profile width to the resolution of an SSD can be made comparable with the conventional case by choosing a suitable radioactive γ-ray source. The preliminary measurements have already shown very promising results and suggest various applications feasible only by this innovation. La mesure du profil de Compton' était presque impossible pour le matériel relativement lourd à cause de l'absorption sensible qui affaiblit l'intensité. La difficulté peut ětre surmontée par l'emploi d'un détecteur à solide (SSD) nondispersif et des rayons X à haute énergie ou rayons γ, où l'intensité effective sera 102 á 104 fois plus fort par rapport de celle à réalisée avec un analysateur à cristal ordinaire. À propos de la résolution d'énergie, le rapport de la largeur de profil à la résolution d'énergie du SSD peut ětre comparable à celui des cas conventionel. Les mesures préliminaire indiquent que les diverses applications de cette technique serant prospères.