Abstract
С помощью ускоренного метода оценки сохраняемости конденсаторов на основе воздействия повышенной температуры среды без приложения электрической нагрузки проведены исследования на стадии производства. При проведении ускоренных испытаний при температуре 398 К (125 ºС) на конденсатор без приложения к нему электрического напряжения происходит старение оксидного слоя на танталовом аноде конденсатора. Приведена методика расчета длительности ускоренных испытаний, которая составила 28,18 ч. Испытаны 5 различных номиналов по 45 штук в каждой из 3 выборок танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов и 2 выборки танталовых объемно-пористых конденсаторов для выявления некачественной продукции. В процессе испытаний, соответствующих годовым циклам до 30 лет, проводились измерения параметров-критериев годности: емкости, тангенса угла потерь, тока утечки, эквивалентного последовательного сопротивления конденсаторов. Из приведенных зависимостей установлено, что в процессе хранения некоторые параметры претерпевают изменения к окончанию срока хранения, имитирующему срок более 25 лет. Отклонение от монотонной зависимости для всех выборок связаны с критическими моментами воздействия тепла. Отмечено, что наибольшие изменения претерпевает параметр тока утечки; другие параметры находятся в пределах нормы.
Sign-in/Register to access full text options 
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callDisclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
