Abstract
본 논문에서는 Wollaston 프리즘을 이용한 스펙클패턴 전단간섭법(shearography)에서 수동소자인 두 개의 파장 판과 편광판의 조합을 통해 각각 90도의 위상천이를 가지는 4개의 스펙클 패턴을 얻고, 이로부터 스펙클패턴의 각 지점에서의 위상을 얻을 수 있는 방법을 제시하였다. 제안된 방법에 사용되는 파장판에 의한 위상오차를 Jones 행렬을 이용하여 분석하였다.
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Schedule a callMore From: Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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