半側空間無視を解明する！―ＢＩＴからｄｅｅｐ ｔｅｓｔｓへ―

Abstract

半側空間無視の伝統的な検査法は，抹消試験，模写・描画試験，線分二等分試験である。これらを総合し，日本人を対象として標準化したものがBIT行動性無視検査の通常検査である。個々の下位検査のカットオフ点まで考慮することによって，半側空間無視の見落としは少なくなる。各課題は，その構成と試行数を変えることによって掘り下げテストとして応用でき，半側空間無視の発現ならびに改善・代償のメカニズムに迫る目的で用いられている。また, BITにおいても遂行過程を深く分析することにより，診断精度の向上とメカニズムの解明に役立てることができる。