Abstract
디스플레이 화질검사를 위한 비전 검사의 속도와 정확성 증가를 위해 디스플레이 생산 공정에서 컨택 지그 틀어짐에 대한 고속 검출과 위치 보정이 필요하다. 컨택 지그란 OLED 패널의 성능과 구동의 검사를 위한 물리적 컨택 유닛이다. 패널 지그에 컨택 시, 검사할 디스플레이의 위치가 맞지 않으면 정밀 검사가 어려워 디스플레이의 수평을 맞추는 과정이 필수적이다. 본 연구에서는 이를 위해 패널 틀어짐에 대한 보정 알고리즘을 고안하고 FPGA 영상처리를 통해 현재 검사하는 액정의 위치와 이동해야 할 값을 계산한다. 이미지 전처리 과정은 이미지 잡음 제거와 에지 검출 마스크 필터를 이용한 코너 좌표 검출을 포함한다. 각도 검출 알고리즘 과정은 병렬처리를 함으로써 고속 보정이 가능하도록 하며, 이는 연산 속도를 높이고 패널 생산 증대에 기여할 수 있다.
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Schedule a callMore From: The Journal of Korean Institute of Information Technology
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