Abstract
Рассмотрены возможные влияния ионизационных явлений на аналитический сигнал в методе масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с высокотемпературным источником ионов. Рассчитаны и экспериментально определены зависимости степени подавления ионных сигналов от концентрации электронов для ионов матричных и приместных элементов. Показано, что степень подавления сигналов достаточно сильно зависит от концентрации электронов в аналитической зоне в присутствии матричных элементов с различными по величине первыми потенциалами ионизации. На примере масс-спектрометра ICP-MS (Agilent Technologies) изучены влияния мощности индуктивной плазмы и скорости распылительного аргона на чувствительность масс-спектрометра. Результаты эксперимента показали, что причины подавления сигналов аналитов на выходе, по-видимому, связаны с ионно-электронной рекомбинацией ионов (как матричных, так и примесных) в области плазмы. Ключевые слова: масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, матричный эффект, рекомбинация ионов, концентрация электронов, подавление ионных сигналов.
Sign-in/Register to access full text options 
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callDisclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
