Abstract

본 논문은 저밀도 패리티 검사 (low-density parity-check, LDPC) 부호의 비트 반전 알고리즘(bit-flipping algorithm, BFA)의 부호 오류율 (Word Error Rate, WER) 및 복호 속도 개선에 관한 연구이다. 비트 반전 알고리즘은 비트의 신뢰도를 측정하는 측도인 반전 함수 (flipping function) 값의 임계값을 초과하는 비트를 반전시켜 오류를 정정하는 방식으로 동작한다. 본 논문에서는 반전 함수의 국소 최댓값을 이용해 반전 함수의 임계값을 매 반복마다 적응적으로 설정하여 반복 복호 횟수와 임계값을 찾는데 필요한 정렬 복잡도를 감소시키고, 복호 실패의 주 원인 중 하나인 trapping set 문제를 해결하기 위해 확률적으로 비트를 반전시켜 부호 오류율을 개선하였다.

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