Abstract
Программно-аппаратные решения повышения сбоеустойчивости комбинационных схем в базисе ПЛИС с учётом межсоединений и блоков ввода-вывода
Full Text 
Sign-in/Register to access full text options
Sign-in/Register to access full text options 
Published version (
Free)
Free) 
Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callMore From: Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development
Paper Title
Journal
Date
