Abstract

МЕТОД ВИЗНАЧЕННЯ ДІЕЛЕКТРИЧНОЇ ПРОНИКНОСТІ ДІЕЛЕКТРИКІВ У ММ ТА СУБММ ДІАПАЗОНАХ ДОВЖИН ХВИЛЬ НА ПІДСТАВІ ВИМІРЮВАННЯ ПАРАМЕТРІВ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОННОГО РЕЗОНАНСУ

Highlights

  • ÌÅÒÎÄ ÂÈÇÍÀ×ÅÍÍß Ä2ÅËÅÊÒÐÈ×ÍÎ ÏÐÎÍÈÊÍÎÑÒ2 Ä2ÅËÅÊÒÐÈÊ2Â Ó ÌÌ ÒÀ ÑÓÁÌÌ Ä2ÀÏÀÇÎÍÀÕ ÄÎÂÆÈÍ ÕÂÈËÜ ÍÀ Ï2ÄÑÒÀÂ2 ÂÈÌ2ÐÞÂÀÍÍß ÏÀÐÀÌÅÒÐ2 ÏËÀÇÌÎÍ-ÏÎËßÐÈÒÎÍÍÎÃÎ ÐÅÇÎÍÀÍÑÓ

  • The purpose of the work is to develop a new method for determining the complex dielectric permeability of dielectrics

  • The proposed method consists in registration of parameters

Read more

Summary

Introduction

ÌÅÒÎÄ ÂÈÇÍÀ×ÅÍÍß Ä2ÅËÅÊÒÐÈ×ÍÎ ÏÐÎÍÈÊÍÎÑÒ2 Ä2ÅËÅÊÒÐÈÊ2Â Ó ÌÌ ÒÀ ÑÓÁÌÌ Ä2ÀÏÀÇÎÍÀÕ ÄÎÂÆÈÍ ÕÂÈËÜ ÍÀ Ï2ÄÑÒÀÂ2 ÂÈÌ2ÐÞÂÀÍÍß ÏÀÐÀÌÅÒÐ2 ÏËÀÇÌÎÍ-ÏÎËßÐÈÒÎÍÍÎÃÎ ÐÅÇÎÍÀÍÑÓ. Предмет і мета роботи: Мета роботи полягає у розробці нового методу визначення комплексної діелектричної проникності діелектриків у міліметровому та субміліметровому діапазонах довжин хвиль. Методи і методологія: Пропонований метод полягає у реєстрації параметрів плазмон-поляритонного резонансу, що збуджується при дифракції електромагнітного випромінювання на дифракційній решітці, створеній на поверхні провідного середовища (металу чи напівпровідника), і реєстрації зміни цих параметрів при нанесенні на решітку плівки матеріалу, діелектричну проникність якого маємо знайти. Результати: Запропонованим методом виконано тестові вимірювання комплексної діелектричної проникності еталонної плівки поліпропілену, які порівняні із відомими даними, отриманими раніше спектроскопічним та інтерферометричним методами. Із існуючих методів визначення оптичних властивостей матеріалів у міліметровому та субміліметровому діапазонах зараз найчастіше використовують спектральні [5] та резонаторні [6] методи.

Objectives
Methods
Full Text
Published version (Free)

Talk to us

Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have

Schedule a call