Abstract
Thearticledealswith the comparative application of optical and raster microscopy for non-metallic objects and non-conducting surfaces. It is noted that this issue is not covered much in the special literature. There are practically no publications that compare and describe photos of the structure of materials obtained using fundamentally different microscopes, in particular, metallographic and raster. The causes of image distortion in a raster electron microscope in the study of dielectrics are considered. Comparative images of the oxidized surface, fabrics and natural leather obtained using raster and optical microscopy are presented. The advantages of optical microscopy in the study of non-conducting surfaces are shown.
Highlights
The article deals with the comparative application of optical and raster microscopy for non-metallic objects and non-conducting surfaces
It is noted that this issue is not covered much in the special literature
Н. Искусство металлографии: возможности использования темнопольной микроскопии для анализа структуры окрашенных объектов / А
Summary
В статье рассматривается сравнительное применение оптической и растровой микроскопии для неметаллических объектов и непроводящих поверхностей. Рассматриваются причины искажения изображения в растровом электронном микроскопе при исследовании диэлектриков. В растровой электронной микроскопии для формирования изображения используются вторичные и обратно-рассеянные электроны. Накопление электронов приводит к появлению на поверхности образца заряженных областей, которые при последующем сканировании могут нерегулярным образом от‐ клонять первичный пучок, приводя к серьезным искажениям изображения. Поэтому для исследования морфологии поверхности диэлектриков применяют методику нанесения проводящего покрытия, когда термическим испарением в вакууме или катодным распылением на по‐ верхность образца наносится тонкая проводящая пленка углерода или металла. В данной статье рассматривается сравнительное применение металлографического и растрового электронного микроскопов для исследования неметаллических объектов. В качестве примера искажения изображения в растровом электронном микроскопе можно привести изображения поверхности оксидированного образца алюминия При удалении оксидированного слоя на изобра‐ жении хорошо проявляется морфология поверхности, в том числе со следами шлифовки; состав матери‐ ала на этом участке – чистый алюминий (см. таблицу)
Sign-in/Register to view highlights & summary Talk to us
Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have
Schedule a callMore From: Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY)
Disclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.
