Abstract

The application of the diffraction method for backscattered electrons allows us to take a fresh look at the structural changes in the material as a whole and on the processes of destruction of metal structures in particular. The aim of this work was to apply the method of diffraction of backscattered electrons to reveal the characteristic distinctive features of the structure of the material in areas under the fracture and away from it.The diffraction of backscattered electrons is a method that allows one to determine the orientation of individual grains, the local texture, and also to identify the phases in the sample under research. This method can determine local and general deformations, the number of recrystallized and deformed grains, the size and misorientation of grains, etc.The results of a study of the mast fragment of the unit for drilling and repairing wells with a carrying capacity of 200 tons (APC-200) are presented with the establishment of characteristic structural differences between the sites under the fracture and away from it.The appearance and development of a subgrain structure at the site under the slope is established. It is shown that the material of the mast was made of rolled metal, for which no additional heat treatment was carried out, and destruction could occur at almost any point.

Highlights

  • The appearance and development of a subgrain structure at the site under the slope is established

  • It is shown that the material of the mast was made of rolled metal, for which no additional heat treatment was carried out, and destruction could occur at almost any point

  • C.P. Investigating Laser Beam Welded Duplex Stainless Steel / C.P. Chen // HKL Technology

Read more

Summary

Материал и методика исследования

В качестве материала исследований были взяты два фрагмента мачты агрегата для бурения и ремонта скважин грузоподъемностью 200 т (АРС-200). Для исследований были взяты фрагменты мачты на участках непосредственно в районе излома и вдали от излома. Исследование микроструктуры проводили на световом микроскопе «MeF-3» фирмы Reichert (Австрия) при увеличении ×50. Твердость по Бринеллю определялась на твердомере ТШ-2М по ГОСТу 9012-59. Исследование дифракционной картины структуры проводили на аттестованном сканирующем электронном микроскопе высокого разрешения Mira фирмы Tescan (Чехия) с микрорентгеноспектральным анализатором и EBSD−детектором. Для получения картин дифракции обратно рассеянных электронов с помощью растрового электронного микроскопа полированный образец наклоняют под углом 70° к горизонтали. С помощью специальных программ автоматически определяется положение каждой из полос Кикучи, проводится сравнение с теоретическими данными по соответствующей кристаллической фазе и быстро вычисляется трехмерная кристаллографическая ориентация. Полученных при анализе образцов методом EBSD, использовался программный модуль Tango, позволяющий получать широкий спектр реконструированных структур построением различных карт EBSD

Результаты и их обсуждение
Список использованных источников
Full Text
Paper version not known

Talk to us

Join us for a 30 min session where you can share your feedback and ask us any queries you have

Schedule a call

Disclaimer: All third-party content on this website/platform is and will remain the property of their respective owners and is provided on "as is" basis without any warranties, express or implied. Use of third-party content does not indicate any affiliation, sponsorship with or endorsement by them. Any references to third-party content is to identify the corresponding services and shall be considered fair use under The CopyrightLaw.